微束分析 扫描电子显微术 术语 |
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| 标准编号：gb/t 23414-2009 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：54.0 元 |
客户评分：  |
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本标准定义了扫描电子显微术(sem)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在iso23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关sem 实践的标准化文件。另外,本标准的某些术语定义,也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(epma)、分析电子显微术(aem)、能谱法(edx)等〕。 |
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| 英文名称： |
microbeam analysis - scanning electron microscopy - vocabulary |
 替代情况： |
被gb/t 23414-2026代替 |
| 中标分类： |
仪器、仪表>>光学仪器>> |
| ics分类： |
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| 采标情况： |
idt iso 22493:2008 |
| 发布部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2009-04-01 |
| 实施日期： |
2009-12-01
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| 作废日期： |
2026-08-01
即将作废 距离作废日期还有173天
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| 首发日期： |
2009-04-01 |
| 提出单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 归口单位： |
全国微束分析标准化技术委员会 |
| 主管部门： |
国家标准化管理委员会 |
| 起草单位： |
中国科学院上海硅酸盐研究所 |
| 起草人： |
李香庭、曾毅 |
| 计划单号： |
20067089-t-469 |
| 页数： |
32页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2009-12-01 |
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本标准等同采用国际标准iso22493:2008《微束分析 扫描电子显微术 术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
---本国际标准一词改为本标准;
---删除国际标准的前言。
---扫描电子显微镜简称扫描电镜。
---增加了中文索引。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅。 |
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前言ⅰ
引言ⅱ
1 范围1
2 缩略语1
3 sem 物理基础术语1
4 sem 仪器术语5
5 sem 成像和图像处理术语10
6 sem 图像诠释和分析术语14
7 sem 图像放大倍率和分辨率校正及测量术语16
参考文献18
中文索引19
英文索引22 |
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