太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法 |
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| 标准编号：gb/t 30869-2014 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：29.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)厚度及总厚度变化的分立式和扫描式测量方法。
本标准适用于符合 gb/t26071、gb/t29055规定尺寸的硅片的厚度及总厚度变化的测量,分立式测量方法适用于接触式及非接触式测量,扫描式测量方法只适用于非接触式测量。在测量仪器准许的情况下,本标准也可用于其他规格硅片的厚度及总厚度变化的测量。 |
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| 英文名称： |
test method for thickness and total thickness variation of silicon wafers for solar cell |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>> |
| ics分类： |
>> |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2014-07-24 |
| 实施日期： |
2015-02-01
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| 提出单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2) |
| 归口单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2) |
| 起草单位： |
东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司 |
| 起草人： |
何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓 |
| 页数： |
12页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2015-02-01 |
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本标准按照 gb/t1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2)共同提出并归口。
本标准起草单位:东方电气集团峨嵋半导体材料有限公司、有研半导体材料股份有限公司、乐山新天源太阳能科技有限公司、青洋电子材料有限公司。
本标准主要起草人:何紫军、冯地直、程宇、黎阳、陈琳、荆旭华、刘卓。 |
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gb/t26071 太阳能电池用硅单晶切割片
gb/t29055 太阳电池用多晶硅片 |
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