太阳能电池用硅片翘曲度和波纹度测试方法 |
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| 标准编号：gb/t 30859-2014 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)翘曲度和波纹度的测试方法。
本标准适用于硅片翘曲度和波纹度的测试。 |
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| 英文名称： |
test method for warp and waviness of silicon wafers for solar cells |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>> |
| ics分类： |
>> |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2014-07-24 |
| 实施日期： |
2015-04-01
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| 提出单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2) |
| 归口单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2) |
| 起草单位： |
江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司 |
| 起草人： |
薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2015-04-01 |
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本标准按照 gb/t1.1—2009 给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2)共同提出并归口。
本标准起草单位:江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、有研半导体材料股份有限公司。
本标准主要起草人:薛抗美、夏根平、孙燕、林清香、徐自亮、黄黎。 |
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