太阳能电池用硅片表面粗糙度及切割线痕测试方法 |
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| 标准编号：gb/t 30860-2014 |
标准状态：现行 |
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| 标准价格：31.0 元 |
客户评分：  |
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本标准规定了太阳能电池用硅片(以下简称硅片)的表面粗糙度及切割线痕的接触式或非接触式轮廓测试方法。
本标准适用于通过线切工艺加工生产的单晶和多晶硅片。如果需要适用于其他产品,则需相关各方协商同意。 |
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| 英文名称： |
test methods for surface roughness and saw mark of silicon wafers for solar cells |
 中标分类： |
冶金>>金属理化性能试验方法>> |
| ics分类： |
>> |
| 发布部门： |
中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会 |
| 发布日期： |
2014-07-24 |
| 实施日期： |
2015-04-01
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| 提出单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2) |
| 归口单位： |
全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2) |
| 起草单位： |
中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心 |
| 起草人： |
徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰、杨素心、蒋建国、王丽华、薛抗美、黄黎 |
| 页数： |
16页 |
| 出版社： |
中国标准出版社 |
| 出版日期： |
2015-04-01 |
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本标准按照 gb/t1.1—2009给出的规则起草。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会(sac/tc203)及材料分技术委员会(sac/tc203/sc2)共同提出并归口。
本标准起草单位:中国有色金属工业标准计量质量研究所、瑟米莱伯贸易(上海)有限公司、江苏协鑫硅材料科技发展有限公司、有研半导体材料股份有限公司、特变电工新疆新能源股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、连云港国家硅材料深加工产品质量监督检验中心。
本标准主要起草人:徐自亮、任皓、陈佳洵、李锐、孙燕、熊金杰、杨素心、蒋建国、王丽华、薛抗美、黄黎。 |
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